Grant: Discovery Grants Program - Individual
École de technologie supérieure
$39,000.00
Test et diagnostic de systèmes microélectroniques émergents ciblant les pannes de type délai
EF 2021-22
Résumé
bruit sur l'alimentation; diagnostic; encapsulation émergente; fiabilité; pannes de délai; test; vieillissement
Programme
Discovery Grants Program - Individual
Bénéficiaire
Emplacement
Quebec, Canada
Type de bénéficiaire
Academia
Type
Grant
Source
NSERC's Awards Data
Tel que publié
Application id
RGPIN-2018-04285
Name nom
Thibeault, Claude
Department département
electrical engineering
Organization id
53
Institution établissement
École de technologie supérieure
Province en
Québec
Province fr
Québec
Country en
CANADA
Country fr
CANADA
Fiscal year exercice financier
2021
Competition year année de concours
2018
Award amount
39000
Program id
RGPIN
Program name en
Discovery Grants Program - Individual
Program name fr
Programme de subventions à la découverte - individuelles
Group en
Discovery grants programs
Group fr
Programmes de subventions à la découverte
Committee code
1510
Committee name en
Electrical and Computer Engineering
Committee name fr
Génie électrique et informatique
Area of application code
513
Area of application group en
Manufacturing processes and products
Area of application group fr
Procédés et produits industriels
Area of application en
Electrical and electronic machinery and equipment (including computer hardware)
Area of application fr
Machinerie et équipement électriques et électroniques (y compris matériel informatique)
Research subject code
2504
Research subject group en
Electrical and electronic engineering
Research subject group fr
Génie électrique et électronique
Research subject en
Integrated circuits
Research subject fr
Circuits intégrés
Installment
inst:4
Partie
1
Nb partie
5
Application title
Test et diagnostic de systèmes microélectroniques émergents ciblant les pannes de type délai
Keyword
NSERC
Application summary
bruit sur l'alimentation; diagnostic; encapsulation émergente; fiabilité; pannes de délai; test; vieillissement
